Mikroskop z oprzyrządowaniem
Laboratorium dysponuje mikroskopem JEOL JEM-ARM200F NEOARMex przeznaczonym do pracy w trybach TEM, STEM i 4D-STEM. Mikroskop dedykowany jest do wysokorozdzielczych obserwacji i analiz chemicznych w skali mikro-, nano- i atomowej oraz badań środowiskowych in-situ w cieczach i w temperaturach kriogenicznych. Zakres powiększeń obrazów mikroskopowych w TEM wynosi od 50 x do 1 500 000 x.
Mikroskop wyposażony m.in. w:
- działo elektronowe z zimną emisją polową
- korektor aberracji sferycznych Cs dla układu oświetleniowego
- wysokokątowy pierścieniowy detektor ciemnego pola (HAADF)
- detektor sektorowy (SAAF), dedykowany dla technik jasnego pola ABF, optymalnego jasnego pola OBF, różnicowego kontrastu fazowego DPC
- spektrometr rentgenowski z dyspersją energii (EDS) - 2 detektory EDS typu SDD JEOL Centurio XXXL
- system 4D-STEM Gatan 4D STEM STEMx o możliwość akwizycji i analiz danych w technice 4D-STEM oraz wykonywania badań takich jak np. mapy odkształceń, mapy orientacji krystalograficznych, tworzenie wirtualnych apertur i różnicowego kontrastu fazowego
- wysokoczułą i szybką kamerę Gatan METRO bezpośredniej detekcji elektronów (typu direct electron detection, DED)
- dedykowany uchwyt mrożeniowy do prowadzanie obserwacji i analiz EDS w temperaturach kriogenicznych, produkcji firmy Gatan, model 915
- dedykowany uchwyt środowiskowy firmy Protochips, model Poseidon Select do prowadzenia obserwacji próbek w środowisku ciekłym/stanie ciekłym i badania chemicznych, elektrochemicznych i strukturalnych procesów zachodzących w czasie rzeczywistym i w skali nanometrycznej
Laboratorium wyposażone jest także w stację do jonowego czyszczenia uchwytów JEOL EC-52000IC, ścieniarkę jonową PIPS II firmy Gatan (ze stolikiem umożliwiającym chłodzenie próbki) i urządzenia pomocnicze do przygotowanie próbek.
